ВАН ДИК Эммануэль (US)

Изобретение относится к избирательно отражающей структуре, регулирующей отражательную способность и пропускание в видимом, БИК (ближнем инфракрасном), КИК (коротковолновым инфракрасном), СИК (средневолновом инфракрасном) и ДИК (длинноволновом инфракрасном) диапазонах электромагнитного спектра. Структура содержит переднюю поверхность и заднюю поверхность, теплопроницаемую визуально непрозрачную по...