PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПАРК Сеюнгджун (US)

Изобретатель ПАРК Сеюнгджун (US) является автором следующих патентов:

Методология измерения покрытия в структурном состоянии взаимного соединения

Методология измерения покрытия в структурном состоянии взаимного соединения

Изобретение относится к способам и устройствам проверки правильности структуры протокола. Технический результат заключается в повышении точности проверки правильности реализации протокола. Пространство покрытия состояний для структуры генерируется и сохраняется в базе данных. Во время моделирования встречающиеся состояния пространства покрытия маркируются. Из этого можно определить встретившиеся...

2430409

Адаптивная организация кэша для однокристальных мультипроцессоров

Адаптивная организация кэша для однокристальных мультипроцессоров

Изобретение относится к области кэширования однокристальных мультипроцессоров, а в частности к аморфным кэшам для однокристальных мультипроцессоров. Технический результат изобретения заключается в оптимизации работы мультипроцессорного чипа путем увеличения эффективности использования кэша. Способ распределения блоков данных в однокристальном мультипроцессоре с аморфным кэшем содержит этап вызов...

2484520