Ланцетов Андрей Анатольевич (RU)

Настоящее изобретение касается способа определения характерных («типовых») дефектов магнитных систем. Заявленный способ включает измерение магнитного поля вокруг конструкции, являющейся источником магнитного поля, определение отклонения измеренного поля в указанных точках от расчетного («идеального»). При этом формируют, по меньшей мере, одно уравнение, связывающее измеренное магнитное поле с гип...