БОНЗОН Мишель (CH)

Использование: для рентгеновского элементного и кристаллографического анализа образца. Сущность: заключается в том, что устройство для выполнения как рентгеновского дифракционного анализа (XRD), так и рентгеновского флюоресцентного анализа (XRF) кристаллического образца, содержит: откачиваемую камеру; держатель образца, расположенный в откачиваемой камере, для установки кристаллического образца т...