Мешкова Мария Александровна (RU)

Изобретение относится к контролю качества полупроводниковых приборов. Сущность: полупроводниковые изделия подвергают трехкратному циклу: кипячение в воде и выдержка при комнатной температуре. По результатам изменения интенсивности НЧ шума до и после испытаний проводят отбор потенциально ненадежных изделий. Технический результат: упрощение, сокращение времени разбраковки. 1 табл.

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения качества и надежности полупроводниковых изделий (диодов, транзисторов и интегральных схем), и может быть использовано для сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых приборов как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность способа заключае...

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам обеспечения надежности полупроводниковых изделий (ППИ) (транзисторов и интегральных схем), и может быть использовано для обеспечения повышенной надежности партий изделий как на этапе производства, так и на входном контроле на предприятиях-изготовителях радиоэлектронной аппаратуры. Сущность изобретения заключается в том, что проводят и...