Чижик Сергей Антонович (BY)

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля и изучения свойств наклонных участков структурных элементов, находящихся на подложке. Сканирование поверхности образца выполняют раздельно для двух участков - поверхности подложки и поверхности структурного элемента, находящегося на подложке, без переустановки образца. Формирование изображения поверхности структу...

Изобретения относятся к приборостроению и машиностроению. Опора содержит опорные пластины, демпфер, пружины в виде нитей и средства для натяжения нитей. Демпфер состоит из постоянных магнитов. Нити жестко закреплены на одной из опорных пластин и упруго связаны с другой опорной пластиной при помощи средства для натяжения нитей. Расстояние между опорными пластинами составляет не менее 0,5 расстояни...

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения вязкости тонких слоев жидкости, для изучения свойств ньютоновских и неньютоновских жидкостей, установления содержания механических примесей в жидкости, измерения сил сопротивления и определения коэффициентов трения жидких и твердых материалов в зависимости от температуры. Техническим результатом заявленного из...

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к способам сканирования поверхности объекта с помощью сканирующего зондового микроскопа, и может быть использовано для определения изменения рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объекта при пропускании электрического тока. Согласно способу сканирования перед установкой объекта на пьезосканере его поверхность...