Толстых В.Т.
Изобретатель Толстых В.Т. является автором следующих патентов:

Устройство для контроля формы поверхности
Изобретение относится к технике измерения отклонений формы и радиуса кривизны сложных поверхностей и, в частности, к устройствам автоматического измерения формы параболических антенн СВЧ-диапазона бесконтактным методом. Целью изобретения является повышение точности измерений, помехозащищенности, расширение диапазона измерений и повышение разрешающей способности при контроле отклонений про...
2058523