Воробьев М.Д.
Изобретатель Воробьев М.Д. является автором следующих патентов:

Способ контроля параметров полупроводниковых диодных структур
(19)SU(11)1274558(13)A1(51) МПК 6 H01L21/66(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДНЫХ СТРУКТУР Изобретение относится к области полупроводниковой электроники, в частности к полупроводниковому приборостроению. Цель изобретения увели...
1274558
Способ контроля качества катодов электронно-лучевых трубок
Использование: область контроля электровакуумных приборов для отбраковки поставляемых потребителю приборов с малым запасом по эмиссии катодов. Сущность изобретения: измерение фликкер-шума тока, отбираемого с катода, при двух значениях этого тока. Отношение измеренных уровней шумов зависит от тока эмиссии катода и увеличивается при снижении эмиссии. Критерием при отбраковке приборов с мал...
1828322
Способ определения коэффициента шума полевых транзисторов и транзисторных структур
Использование: контроль качества транзисторов и транзисторных структур на различных этапах технологического цикла путем прогнозирования шумовых параметров на рабочей частоте. Сущность изобретения: измеряют температурные зависимости шума на нескольких фиксированных низких частотах в линейном режиме при нулевом напряжении затвора и определяют максимумы на этих зависимостях. По полученным ре...
2012006
Способ неразрушающего контроля качества катодов электронно- лучевых трубок
Использование: в области вакуумной электроники, позволяет повысить достоверность и упростить контроль качества катодов. Сущность изобретения: измеряют фликкерную компоненту шума при фиксированной частоте f, устанавливают отбираемый с катода ток изменением положительного напряжения на аноде, при этом остальные электроды имеют нулевой потенциал. При каждом значении тока измеряют соответству...
2065635