Кутюрин Ю.Г.
Изобретатель Кутюрин Ю.Г. является автором следующих патентов:

Многопараметрический дефектоскоп
Изобретение относится к ультразвуковой дефектоскопии для неразрушающего контроля качества многослойных полимерно-композиционных материалов. Повышение достоверности и оперативности неразрушающего контроля достигается путем использования дополнительных информативных признаков сигнала и автоматизации процесса измерений. Это достигается тем, что многопараметрический дефектоскоп содержит ультр...
2123687