PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Кутюрин Ю.Г.

Изобретатель Кутюрин Ю.Г. является автором следующих патентов:

Многопараметрический дефектоскоп

Многопараметрический дефектоскоп

 Изобретение относится к ультразвуковой дефектоскопии для неразрушающего контроля качества многослойных полимерно-композиционных материалов. Повышение достоверности и оперативности неразрушающего контроля достигается путем использования дополнительных информативных признаков сигнала и автоматизации процесса измерений. Это достигается тем, что многопараметрический дефектоскоп содержит ультр...

2123687