PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Кислов В.В.

Изобретатель Кислов В.В. является автором следующих патентов:

Способ оперативного контроля импульсных светодальномеров

Способ оперативного контроля импульсных светодальномеров

 Изобретение касается измерения расстояния с помощью лазерного излучения. Цель изобретения - повышение надежности контроля и экономии ресурса импульсного светодальномера. Заранее определяют величины задержки и ослабления каналов. Измерение проводят за один импульс светодальномера. При этом разделяют с помощью волоконной линии задержки телесный угол , в котором распространяется излучение,...

1641103

Сканирующий туннельный микроскоп

Сканирующий туннельный микроскоп

 Изобретение относится к туннельной микроскопии и может быть использовано для исследований быстропротекающих динамических процессов на поверхностях изучаемых объектов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей сканирующего туннельного микроскопа за счет расширения диапазона временных характеристик исследуемых процессов. Микроскоп содержит по крайней мере два игольча...

1833046

Хитин для поглощения электромагнитной энергии в диапазоне свч

Хитин для поглощения электромагнитной энергии в диапазоне свч

  Использование: в радиотехнике для поглощения электромагнитной энергии в СВЧ-диапазоне. Сущность изобретения: применение хитина, полученного, например, из панциря камчатского краба по методу Хакмана, в качестве радиопоглощающего материала в диапазоне СВЧ. Изобретение относится к радиоэлектронике, а именно к материалам, поглощающим радиоволны в диапазоне СВЧ. Целью изобретения является рас...

2007796

Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа

Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа

 Относится к области приборостроения, в частности к сканирующей туннельной микроскопии, используемой для исследования поверхности проводящих веществ. Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа заключается в том, что поверхность исследуемого вещества сканируют металлической иглой в режиме постоянного туннельного тока, для чего в каждой...

2072581

Способ исследования поверхности микрообъектов и устройство для его реализации

Способ исследования поверхности микрообъектов и устройство для его реализации

 Использование: для исследования поверхностных слоев вещества методами СВЧ и сканирующей туннельной спектроскопии. Сущность изобретения: в промежутке между проводящей иглой и поверхностью микрообъекта создают постоянное электрическое поле, регистрируют постоянный туннельный ток, управляют перемещением проводящей иглы над поверхностью микрообъекта и определяют рельеф поверхности микрообъект...

2092863