PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Алекперов С.Д.

Изобретатель Алекперов С.Д. является автором следующих патентов:

Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа

Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа

 Относится к области приборостроения, в частности к сканирующей туннельной микроскопии, используемой для исследования поверхности проводящих веществ. Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа заключается в том, что поверхность исследуемого вещества сканируют металлической иглой в режиме постоянного туннельного тока, для чего в каждой...

2072581