Катеринич И.И.

 Изобретение относится к электронной технике, а точнее к обеспечению надежности и высокого процента выхода годных полупроводниковых приборов и интегральных схем с МОП-структурой. Предлагается контроль МОП-полупроводниковых приборов и интегральных схем на пластинах с помощью включения операции "облучение - отжиг" между операциями выборочного и 100%-го контроля изделий, что позволяет выявить...