Фролов Л.Н.

 Изобретение относится к микроэлектронике. Сущность изобретения: способ отбора на этапе производства пластин с радиационно-стойкими МОП интегральными схемами заключается в том, что проводят измерение пороговых напряжений и токов потребления интегральных схем до и после воздействия 10 кэВ рентгеновского излучения. Затем определяют среднюю скорость изменения пороговых напряжений тестовых тра...