Тупикин В.Д.
Изобретатель Тупикин В.Д. является автором следующих патентов:
Способ изготовления замедляющей системы типа цепочки связанных резонаторов приборов 0-типа
СО!03 СО!!ВТСМИХ СОЙИАЯИСТИЧВСК!! Х РВСПУВЯИК :ОПИСАЩН ИЗОБРЕТЕНИ K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Щ С, ГОСУДМСППИНОВ IlATKHTIOE ВВДОМСТЗО СССР (ГОСПАТВИТ CCCt) 1 (Ь) 3478639/2i (22) 356f32 (ИЩИ.9Э Sea Ne 43-44 рй).-Андрушкевич В.CÄ Антойое Э.С. Семеное ВК; Тореее АИ„Тфикин Нд (в) 3Д (и) 1090182 А1 (5Ц HOI 33 24 Н01Р11 00 (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЗАМЕДЛЯЮЩКЙ CMCTEMbl TNAA ЦЕЛО...
1090182Способ определения границ полосы пропускания замедляющей системы прибора свч
Способ определения границ полосы пропускания замедляющей системы прибора СВЧ, включающий операции измерения частоты, входной и выходной мощности и определения границ полосы пропускания по частотной зависимости параметров испытуемого прибора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения и увеличения достоверности результатов, измерения проводят при возбуждении прямой и обрат...
1160875Устройство для измерения толщины пленки
Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может использоваться для измерения толщины металлических пленок, нанесенных на диэлектрическую подложку, и толщины диэлектрических пленок, нанесенных на металл. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых толщин и класса исследуемых материалов, а также увеличение чувствительности. Устройство для измерения толщины пленки содержит...
1831121Способ контроля параметров диэлектрика на металлическом основании
Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может использоваться для одновременного контроля в ходе технологического процесса двух параметров диэлектрических пленок на металлическом основании. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых величин. Способ контроля толщины и диэлектрической проницаемости диэлектрика включает одновременное облучение исследуемого диэлектрика на...
2012871Устройство для измерения толщины пленок
Изобретение относится к технике неразрушающих методов контроля и может быть использовано для измерения толщины электропроводящего покрытия на диэлектрическом основании и толщины диэлектрического покрытия на электропроводящем основании. С целью расширения диапазона измерения толщин пленок в устройстве, содержащем источник 1 питания, генератор 2 сигналов, резисторы 3 . . . 7, конденсаторы 8...
2016376Способ изготовления серебряного электрода химического источника тока
Использование: производство щелочных химических источников тока. Сущность изобретения: серебряный порошок термообрабатывают при 450 - 500oC не менее 3,5 ч, измельчают в мельнице молоткового типа в течение 20 - 30 мин, прессуют с токоотводом и проводят повторную термообработку. Это позволяет использовать порошки с любым значением насыпной плотности, повышает механическую прочность электрод...
2084050