PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Цветков Э.И.

Изобретатель Цветков Э.И. является автором следующих патентов:

Способ неразрушающего контроля толщины защитных покрытий изделий и устройство для его осуществления

Способ неразрушающего контроля толщины защитных покрытий изделий и устройство для его осуществления

 Использование: в системах оперативного неразрушающего контроля толщины пленочных покрытий изделий, используемых в машиностроительной, авиационной и др. отраслях промышленности. Сущность: на изделие с покрытием воздействуют одиночным тепловым импульсом от линейного теплоизолированного источника. Определяют время релаксации температурного поля в точке контроля температуры, расположенной на...

2084819