Дрешер М.Ш.

 Сущность изобретения: облучают анализируемую и эталонную пробы пучком рентгеновских лучей; регистрируют дифракционный спектр, на котором выбирают один узкий, но наиболее информативный участок, в котором проявляется по одному близко расположенному друг к другу отражению от каждого из присутствующих в пробе минералов; проводят над общей фоновой линией разложение профиля перекрывающихся дифр...