Кармазин С.В.

 Использование: контроль качества транзисторов и транзисторных структур на различных этапах технологического цикла путем прогнозирования шумовых параметров на рабочей частоте. Сущность изобретения: измеряют температурные зависимости шума на нескольких фиксированных низких частотах в линейном режиме при нулевом напряжении затвора и определяют максимумы на этих зависимостях. По полученным ре...