Абесаломов М.К.
Изобретатель Абесаломов М.К. является автором следующих патентов:

Вторично-ионный масс-спектрометр
Изобретение относится к экспериментальной физике, предназначено для анализа поверхности твердого тела и позволяет расширить функциональные возможности прибора посредством дополнительной регистрации оптического излучения, возникающего при взаимодействии первичного ионного пучка с поверхностью образца. Сущность изобретения: устройство содержит вакуумную систему, двухканальный монопольный ма...
2012089