PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Щербаков А.Ю.

Изобретатель Щербаков А.Ю. является автором следующих патентов:

Вторично-ионный масс-спектрометр

Вторично-ионный масс-спектрометр

 Изобретение относится к экспериментальной физике, предназначено для анализа поверхности твердого тела и позволяет расширить функциональные возможности прибора посредством дополнительной регистрации оптического излучения, возникающего при взаимодействии первичного ионного пучка с поверхностью образца. Сущность изобретения: устройство содержит вакуумную систему, двухканальный монопольный ма...

2012089