PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Яблонский Г.П.

Изобретатель Яблонский Г.П. является автором следующих патентов:

Способ определения кристаллографической неоднородности полупроводниковых кристаллических образцов

Способ определения кристаллографической неоднородности полупроводниковых кристаллических образцов

 1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКОЙ НЕОДНОРОДНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ОБРАЗЦОВ, основанный на возбуждении и регистрации стримерных разрядов в образце, отличающийся тем, что, с целью обеспечения определения кристаллографической неоднородности тонких (тоньше 0,1 мм) пластин сульфида кадмия, повышения экспрессности и достоверности, возбуждение стримерных разрядов в обра...

1268015

Способ определения характеристик микроскопических фигур травления кристаллов

Способ определения характеристик микроскопических фигур травления кристаллов

 Изобретение относится к кристаллографии и исследованию физических и химических свойств кристаллов и может быть использовано при определении качества поверхности, распределения субзерен и дефектов. Целью изобретения является повышение экспрессности и расширение возможностей способа. Способ осуществляется следующим образом. На пластину кристалла с микроскопическими фигурами травления направ...

1356706

Способ определения кристаллографической неоднородности полупроводниковых кристаллов

Способ определения кристаллографической неоднородности полупроводниковых кристаллов

 Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения кристаллографической неоднородности полупроводниковых кристаллов. Цель изобретения - повышение информативности путем определения блочной структуры кристалла. Ориентируют кристаллографические поверхности кристалла и погружают его в диэлектрическую жидкость. С помощью двух электродов, один из которых...

1491271

Полупроводниковый лазер с накачкой электронным пучком и способ его изготовления

Полупроводниковый лазер с накачкой электронным пучком и способ его изготовления

 Изобретение относится к лазерной технике и может быть использовано при создании мощных полупроводниковых лазеров с накачкой электронным пучком большого сечения. Целью изобретения является увеличение выходной мощности излучения лазера. Благодаря замене одного из зеркал резонатора лазера поверхностью в виде микрорельефа из уголковых отражателей, усиливается излучение в направлении оси резон...

1653514

Способ изготовления полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком

Способ изготовления полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком

 Использование: при создании мощных полупроводниковых лазеров с накачкой электронным пучком большого сечения. Сущность изобретения: на полупроводниковой пластине их теллурида кадмия с оптическим резонатором, состоящим из двух зеркал, одно из которых глухое, последнее изготавливают на поверхности с кристаллографической ориентацией (III) путем травления этой поверхности в смеси азота и солян...

2013837


Способ изготовления полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком

Способ изготовления полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком

 Использование: технология изготовления мощных полупроводниковых лазеров с накачкой электронным пучком. Сущность изобретения: при изготовлении полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком используют пластину из селенида цинка, изготавливают оптический резонатор, состоящий из двух зеркал. Глухое зеркало изготавливают на поверхности пластины, перпендикулярной кристаллографическому...

2017267

Способ изготовления полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком

Способ изготовления полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком

 Использование: технология изготовления мощных полупроводниковых лазеров с накачкой электронным пучком. Сущность изобретения: при изготовлении полупроводникового лазера с накачкой электронным пучком используют пластину из арсенида галлия, изготавливают оптический резонатор, состоящий из двух зеркал. Глухое зеркало резонатора изготавливают на поверхности пластины, перпендикулярной кристалло...

2017268

Неразрушающий способ определения параметров кристаллов полупроводников

Неразрушающий способ определения параметров кристаллов полупроводников

 Использование: изобретение относится к полупроводниковой технике, а именно к способам определения кристаллографической полярности поверхностей полупроводниковых кристаллов cds. Сущность изобретения: каждую поверхность образца освещают светом, регистрируют спектр экситонного излучения в диапазоне длин волн 482-496 нм и определяют кристаллографическую полярность для высокоомных кристаллов н...

2018193

Способ определения направления полярной оси в монокристаллах

Способ определения направления полярной оси в монокристаллах

  Использование: в кристаллографии, полупроводниковой технике и других областях, где исследуются материалы с помощью электронных разрядов. Сущность изобретения: на монокристалл -дифосфида кадмия подается электрическое поле с помощью иглового электрода через разрядный промежуток игла-кристалл, помещенный в диэлектрическую жидкость. Игловой электрод подводят со стороны базисных плоскостей с...

2022403