PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Пикина И.В.

Изобретатель Пикина И.В. является автором следующих патентов:

Способ контроля качества и фокусировки оптической системы

Способ контроля качества и фокусировки оптической системы

 Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при наземных испытаниях оптикоэлектронной аппаратуры, имитирующей точку, в частности в стенках, работающих в криовакуумных условиях. Сущность изобретения: в способе контроля качества и фокусировки оптической системы, включающем формирование коллимированного пучка, разделение его на два равных по интенсивности, пропуск...

2018101