Пикина И.В.
Изобретатель Пикина И.В. является автором следующих патентов:

Способ контроля качества и фокусировки оптической системы
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при наземных испытаниях оптикоэлектронной аппаратуры, имитирующей точку, в частности в стенках, работающих в криовакуумных условиях. Сущность изобретения: в способе контроля качества и фокусировки оптической системы, включающем формирование коллимированного пучка, разделение его на два равных по интенсивности, пропуск...
2018101