Шабанов В.И.

  !!i ь /7 li с Г ! )::!,!! !l ) И ) / ) ! ) I 1!!1! 1„ ) ! I 1! 7 1 /,) ) ) (t 7,, ) )i) < >cl!, ) E г 06/,е. .- Р,! / е). /)., . Й. .."92. iT(), К )r .,,:Я ! и /еж ))! .. . 7 7 .;.)i / 7 1! !,(! ) (),-,. /! / !! /!.. I с )!))) ) ), ) E 1 1 / i;", ь ! )   

 Использование: в радиоинтроскопии в диапазоне сверхвысоких частот, в дефектоскопии для обнаружения дефектов, существующих и возникающих в радиопрозрачных объектах при их вращении, а также в объектах, подвергающихся периодическим нагрузкам, а также для обнаружения изменения параметров материала, периодически меняющихся во времени. Сущность изобретения: для решения задачи использован принци...