Талуц А.Г.

 Устройство для измерения напряженности поля анизотропии доменосодержащих структур, содержащее последовательно оптически соединенные источник поляризованного света и поляризационный микроскоп, источник переменного магнитного поля, ориентированный вдоль оптической оси поляризационного микроскопа, источник постоянного магнитного поля, ориентированный вдоль фокальной плоскости поляризационног...

  Использование: в технике магнитных измерений в аппаратуре для визуального контроля доменной структуры в процессе производства ферритгранатовых пленок. Сущность изобретения: устройство содержит осветитель 1, поляризатор 2, образец 3, объектив 4, делитель 5, анализатор 6, камеры 7, 8, селектор 9, усилитель 10, фиксатор 11, инвертор 12, блок 13, одновибраторы 14 - 17, элементы И 18 - 20, кл...

 Изобретение относится к измерительной технике, в частности к установкам зондового контроля структур микроэлектроники. Сущность изобретения: устройство для контроля полупроводниковых структур содержит микроскоп, привод, зондовую головку, предметный столик и криостат. Криостат выполнен в виде сообщающихся между собой двух теплоизолированных камер, в первой из которых расположен нагреватель,...