Курмашев С.М.

 Использование: для контроля и измерения критических значений прямого тока силовых полупроводниковых приборов (СПП). Сущность способа: через испытуемый прибор (ИП) пропускают импульс силового тока и одновременно контролируют взаимосвязанный с током параметр прибора, фиксируя при этом величину силового тока, которую принимают за измеряемый параметр. Импульс силового тока пропускают до момен...