Кулик С.П.

  Использование: техника оптической фотометрии, а именно техника измерения абсолютной чувствительности фотоприемников в видимом и ИК-диапазонах спектора электромагнитного излучения. Сущность изобретения: используют параметрическое расстояние лазерного излучения в нелинейном кристалле, после кристалла производят селекцию рассеянного излучения по направлению распространения составляющих волн...