PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Ступина Н.М.

Изобретатель Ступина Н.М. является автором следующих патентов:

Способ определения нормируемых емкостных показателей качества ионита

Способ определения нормируемых емкостных показателей качества ионита

  Использование: в ионообменной технологии для испытания и аттестации свойств ионитов всех классов. Сущность: определение нормируемых показателей осуществляют в динамических условиях на одной пробе ионита объемом 5 0,1 см3, помещенной в колонку с внутренним диаметром 0,850,05 см. 1 з.п. ф-лы, 3 табл. Изобретение относится к методам контроля производства ионитов и может быть использовано в...

2036159