PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Николас С.Феррейра[US]

Изобретатель Николас С.Феррейра[US] является автором следующих патентов:

Способ ультразвукового контроля детали, имеющей контролируемую поверхность и по крайней мере одно образование обратного отражения (варианты)

Способ ультразвукового контроля детали, имеющей контролируемую поверхность и по крайней мере одно образование обратного отражения (варианты)

  Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в различных отраслях промышленности. Цель изобретения - повышение качества контроля за счет сокращения зоны акцентической тени. Это достигается выбором соответствующих плоскостей сканирования. 10 з.п. ф-лы, 2 ил. Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в различных отраслях промышле...

2037820