PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Казьмин Александр Игоревич (RU)

Изобретатель Казьмин Александр Игоревич (RU) является автором следующих патентов:

Свч устройство для определения электрофизических параметров и концентрации ферромагнитных жидкостей

Свч устройство для определения электрофизических параметров и концентрации ферромагнитных жидкостей

Изобретение относится к способам и устройствам измерения концентрации и электрофизических параметров жидких дисперсионных сред и может быть использовано для контроля и регулирования электрофизических параметров и концентрации ферромагнитных частиц (ФМЧ) в жидкости в процессе производства изделий из ферромагнитных материалов, в химической и других областях промышленности. Сущность изобретения закл...

2465571

Свч способ обнаружения и оценки неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металле

Свч способ обнаружения и оценки неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металле

Изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий на металле, при разработке неотражающих и поглощающих покрытий. Повышение вероятности обнаружения малоразмерных неоднородностей и увеличение точ...

2507506

Устройство измерения уровня криогенной жидкости

Устройство измерения уровня криогенной жидкости

Изобретение относится к криогенной технике, а именно к измерителям уровня криогенной жидкости, и может быть использовано в автоматизированных системах управления технологическими процессами в криогенных воздухоразделительных установках. Сущность: устройство определения уровня криогенной жидкости состоит из датчика, блока анализа и регистратора. Датчик выполнен из тонкостенной диэлектрической пла...

2550311

Свч-устройство для измерения электрофизических параметров и обнаружения неоднородностей в диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях на металле

Свч-устройство для измерения электрофизических параметров и обнаружения неоднородностей в диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях на металле

Изобретение относится к СВЧ-технике и может быть использовано для определения электрофизических параметров и неоднородностей диэлектрических покрытий на поверхности металла. Повышение быстродействия и надежности СВЧ-устройства для измерения электрофизических параметров, увеличение точности измерения и вероятности обнаружения неоднородностей покрытия является техническим результатом изобретения....

2594761

Свч способ обнаружения неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металлической подложке

Свч способ обнаружения неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металлической подложке

Изобретение относится к способу определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и немагнитных покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле качества твердых покрытий на металле в процессе разработки и эксплуатации неотражающих и поглощающих покрытий, а также в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности. Техническ...

2604094