Декапольцев Максим Валерьевич (RU)

Использование: для регистрации кривых дифракционного отражения. Сущность заключается в том, что пучок рентгеновского излучение заданного диапазона направляют на исследуемый кристалл, а интенсивность рентгеновского излучения, подвергшегося дифракции в исследуемом кристалле, определяют с помощью детектора при последовательном изменении параметров условий дифракции снимаемого рентгеновского рефлекса...