Яфраков М.Ф.
Изобретатель Яфраков М.Ф. является автором следующих патентов:

Нейропроцессор, устройство для вычисления функций насыщения, вычислительное устройство и сумматор
Изобретения относятся к вычислительной технике и могут быть использованы для формирования нейронных сетей. Техническим результатом является расширение функциональных возможностей за счет изменения разрядности результатов. Нейропроцессор содержит регистры, блоки памяти магазинного типа, коммутатор, вычислительное устройство, сдвиговый регистр и устройства для вычисления функции насыщения,...
2131145
Отказоустойчивая бортовая микропроцессорная система, устройство "служба сторожевого таймера, способ работы отказоустойчивой бортовой микропроцессорной системы"
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для построения высоконадежных отказоустойчивых бортовых комплексов в космической, авиационной, ядерной и других отраслях, требующих высокой достоверности и надежности функционирования. Технический результат изобретения заключается в повышении надежности функционирования в условиях разрушающего воздействия ионизирующе...
2131619
Способ отбраковочных испытаний подложки из диэлектрика или полупроводника с топологией, изделий электронной техники на стойкость к внешним воздействующим факторам
Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов,...
2138830