PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Апанасенко В.П.

Изобретатель Апанасенко В.П. является автором следующих патентов:

Способ получения развертки с обувных колодок

Способ получения развертки с обувных колодок

  Класс 71с, 1в. ", с № 130801 ь СССР 1 г и ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ с, ! Подписная группа № 252 В. П. Апанасенко СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РАЗВЕРТКИ С ОБУВНЫХ КОЛОДОК Заявлено 26 декабря !959 г. за № 648775/28 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 15 за 1960 г. Способ получения развертки с об...

130801

Способ изготовления обуви

Способ изготовления обуви

  Класс 71а, 13оз Ю 134585 cccr» ОПИСАНИК ИЗОБРКТЕНИЯ К АЬТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Подписная группа М 252 О. А. Притула, Э. А. Бабаев, А. М. Ерухимович, А. Ю. Фуксман, .В. П. Апанасенко, Х, И.,Вассерман и Ю. Я. Файнгерш СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОБУВИ Заявлено 2 июля 1959 г. за X 632587/28 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Опубликовано в «Бюллетене изо...

134585

Способ определения профиля концентрации легирующей примеси в полупроводниках

Способ определения профиля концентрации легирующей примеси в полупроводниках

 Способ определения профиля концентрации легирующей примеси в полупроводниках, основанный на измерении вольт-фарадной характеристики МДП-структуры и определении профиля концентрации легирующей примеси расчетным путем, отличающийся тем, что, с целью расширения пределов определения профиля концентрации легирующей примеси, перед измерением вольт-фарадной характеристики к МДП структуре приклад...

893092

Способ измерения напряжения инверсии мдп-структур

Способ измерения напряжения инверсии мдп-структур

 Способ измерения напряжения инверсии МДП-структур, включающий подачу на МДП-структуру линейно изменяющегося напряжения смещения, высокочастотного измерительного напряжения, выделение напряжения, пропорционального емкости МДП-структуры, дифференцирование этого напряжения, измерение величины производной, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения напряжения инверсии, напряж...

1464810

Способ определения мощности поглощенной дозы ионизирующего излучения в мдп-структурах

Способ определения мощности поглощенной дозы ионизирующего излучения в мдп-структурах

 Способ определения мощности поглощенной дозы ионизирующего излучения в МДП-структурах, включающий нанесение электродов к структуре, подачу на них напряжения смещения, облучение структуры ионизирующим излучением и вычисление мощности поглощенной дозы излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и оперативности способа, до облучения снимают C-V-характеристики с разными скоро...

1526515