Левинзон Д.И.

  № 150176 Предлагаемый зонд может найти применение для контроля слитков полупроводников,,например германий, уо типу проводимости. Ф Предмет изобретения Потенциальный зонд для измерения тяпа проводимости полупроводниковых материалов, отличающийся тем, что, с целью повы-! шения чувствительности измер ения к избыточной 1концентрации акцепторных примесей, он выполнен в виде кон...