PatentDB.ru — поиск по патентным документам

А. П. Павловский, Л. Тубеншл А. Н. Кудр вцев , А. И. Мосичкин

Изобретатель А. П. Павловский, Л. Тубеншл А. Н. Кудр вцев , А. И. Мосичкин является автором следующих патентов:

Установка для обнаружения дефектов на поверхности шариков

Установка для обнаружения дефектов на поверхности шариков

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ И АВТОРСКОААУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советояив Социалистичесиих Республин Зависимое от явт. свидетельства М Кл. 42в, 26103 Заявлено 17.1т .1965 (М 1004644 25-28) с присоединением заявки М Котаитет по делас1 изобретений и открытий при Совете сйинистрсв СССР 111ПК G Olb УДК 531.717.8:621.822,71 (0SS.81 Приоритет Опубликовано 20.Х.1966. Бюллетень Ы 21 Дата опуб...

188040