Дьяченко А.Г.

 Изобретение относится к области контроля параметров полупроводниковых структур после технологических операций. Полупроводник облучают зондируюшим электромагнитным излучением, длина волны которого больше толщины исследуемого слоя полупроводника, измеряют интенсивность интерференционных максимумов I или II порядков отраженного или прошедшего сигнала, одновременно с облучением исследуемую по...

 Способ предназначен для обработки почвы и может быть использован в сельском хозяйстве. Способ заключается в том, что на пласт воздействуют системой деформаторов: горизонтального, вертикального, вспомогательного и щелереза. Рыхление почвенного пласта деформаторами производят с совмещением их зон рыхления. При этом направление линий скалывания вертикального деформатора по отношению к гранич...