Щербакова И.А.

 Способ используется для исследования физико-химических свойств материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей для склеенных в единую структуру кристаллов. Производят последовательное выведение кристаллов в отражающее положение путем поворота структуры вокруг оси дифрактометра, измерение разности углов, при которых наблюдаются максимумы отражения монохроматического рентгеновского излуч...

 Использование: в области производства полупроводниковых приборов, стойких к воздействию дестабилизирующих факторов. Сущность изобретения: способ включает термокомпрессионное соединение окисленных рабочей кремниевой пластины с пластиной-носителем и абразивно-химическое утонение рабочей пластины до заданной толщины приборного слоя. Перед термокомпрессионным соединением в рабочей пластине пу...