PatentDB.ru — поиск по патентным документам

В. И. Титков БИЕЛИО

Изобретатель В. И. Титков БИЕЛИО является автором следующих патентов:

Устройство для контроля толщины покрытия при химическом никелировании

Устройство для контроля толщины покрытия при химическом никелировании

  Союз Соеетских Социалистических ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСХОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Республик Зависимое от авт. свидетельства №вЂ” Заявлено 31.XII.1969 (K 1390311/22-1) с присоединением заявки №вЂ” Приоритет— Опубликовано 08.I.1973. Бюллетень ¹ 6 Дата опубликования описания 28.111.1973 М. Кл. С 23с 3/00 G 01Ь 7/06 Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министр...

365394