Савенков В.Н.

 Изобретение относится к неразрушающему контролю физических параметров материалов и может быть использовано для определения величины напряжения в длинных стержнях для тарировки образцов при усталостных испытаниях и контроля изделий в процессе воздействия динамических нагрузок. Цель изобретения - повышение точности установления зависимости несущей способности изделия об уровне накопленных в...

 Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к многопортовым запоминающим устройствам. Запоминающее устройство содержит матрицу запоминающих элементов, дешифратор записи, дешифратор считывания, усилитель считывания, блок триггеров адреса записи, триггер разрешения записи, блок триггеров данных, формирователь строба записи, выходной усилитель, формирователь сигналов управлен...

 Изобретение относится к электротехнике и предназначено для использования в логических устройствах на биполярных и комплементарных МДП-транзисторах, его целью является повышение быстродействия преобразователя уровня ЭСЛ-КМОП, которое достигается введением в устройство первого и второго элементов смещения 19, 20 и изменением связей компонентов, позволившим реализовать в устройстве метод фор...

 Использование: микроэлектроника, а именно технология БиКМОП приборов, у которых на одном кристалле формируются комплиментарные биполярные и полевые транзисторы. Сущность изобретения: в способе изготовления БиКМОП прибора за счет того, что оставляют первый слой поликремния и подзатворный окисел в карманах полевых транзисторов с перекрытием слоем поликремния полевого окисла на величину, рав...