Катин Е.В.
Изобретатель Катин Е.В. является автором следующих патентов:

Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты)
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев. Устройство может быть использовано для непрерывного бесконтактного контроля толщины полированного стекла на "горячих" стадиях его производства. Разработанное устройство позволяет повысить точность измерения физических параметров прозрачных...
2141621
Интерферометрическое устройство для бесконтактного измерения толщины
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей д...
2147728