Тертышник А.Д.
Изобретатель Тертышник А.Д. является автором следующих патентов:
![Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты) Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты)](/img/empty.gif)
Интерферометрическое устройство для измерения физических параметров прозрачных слоев (варианты)
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев. Устройство может быть использовано для непрерывного бесконтактного контроля толщины полированного стекла на "горячих" стадиях его производства. Разработанное устройство позволяет повысить точность измерения физических параметров прозрачных...
2141621![Интерферометрическое устройство для бесконтактного измерения толщины Интерферометрическое устройство для бесконтактного измерения толщины](/img/empty.gif)
Интерферометрическое устройство для бесконтактного измерения толщины
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей д...
2147728