Будкина Е.Н.

 Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали. Для обнаружения дефектов поверхности деталей световой поток направляют на поверхность контролируемой детали, дискретно регистрируют и преобразуют в электриче...