PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ДЕЛЮНОВ НИКОЛАЙ ФЕДОРОВИЧ

Изобретатель ДЕЛЮНОВ НИКОЛАЙ ФЕДОРОВИЧ является автором следующих патентов:

Компаратор для аттестации линейных штриховых мер

Компаратор для аттестации линейных штриховых мер

  ОПИСАНИЕ ц 441444 Союз Советских Социалистических Республик ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 14.01.70 (21) 1392685/25-28 (51) М. Кл. G 01Ь 11/02 с присоединением заявки № (32) 11риоритет Опубликовано 30.08.74. Бюллетень № 32 Дата опубликования описания 20.08.75 йсударственный комитет Совета Министров СССР ло делам изо...

441444

Устройство для измерения перемещений объекта

Устройство для измерения перемещений объекта

  0 Д И (: A H И Е „„441446 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 14.06.71 (21) 1670308, 25-28 с присоединением заявки № ГосудаРстоенный комитет (32) Приоритет Совета Министров СССР по лелам изобретений ОпУбликовано 30.08.74. Бюллетень № 32 (51) M. Кл. б 01Ь 19/34 (53) УДК 531.71(088...

441446

Фотоэлектрическая автоколлимационная насадка

Фотоэлектрическая автоколлимационная насадка

  ОПИСАНИЕ ИЗОЬРЕтЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ т1п 453039 Союз Советских Социалистических Реслублик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 31.03.72 (21) 1763783/18-10 (51) М. Кл. С 02b 27/30 с присоединением заявки № Государственный комитет Совета Министров СССР ло делам изобретений (32) Приоритет Опубликовано 25.11.74. Бюллетень № 43 Дата опубликования описани...

451039

Устройство для контроля плоскостности поверхностей

Устройство для контроля плоскостности поверхностей

  О П И С А Н И Е (и741045 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскии Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 28,12.77 (21) 2561433/25-28 с присоедичением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М, Кл. G 01 В 11/30 Гееударстееинмй камитет СССР Опубликовано 15.06.80. Бюллетень № 22 Дата опубликования описания 25.06.80 (53) УДК 53...

741045