КРЫЛОВ КОНСТАНТИН ИВАНОВИЧ
Изобретатель КРЫЛОВ КОНСТАНТИН ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ развертки для анализа и синтеза изображений Способ развертки для анализа и синтеза изображений](https://img.patentdb.ru/i/200x200/013ee1d28147754d3d4cf7bd88730a1f.jpg)
Способ развертки для анализа и синтеза изображений
ОП ИCAHME ИЗОБРЕТЕНИЯ (») 443496 Союз Советскик Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 15.11.71 (21) 1714605/26-9 (51) М. Кл. Н 04п 5/30 с присоединением заявки № Государствеииый комитет ,"îâåòà Министров СССР (32) Приоритет Опубликовано 15.09.74. Бюллетень № 34 Дата опубликования описания 22.04.75 (53) УДК 6...
443496![Устройство для контроля неоднородности полупроводников Устройство для контроля неоднородности полупроводников](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8f259cf3d43280a17f8bd9c9789a7597.jpg)
Устройство для контроля неоднородности полупроводников
.,;ВСК .гтет " ИЛТ КАФ бееби вотен в; -.ъ. ОЛ ИКАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Соииаиистииесиих Республик (11) 468198 (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 25. 07. 73. (21) 1948443/26-25 (51) М. Кл. Q 01 1 31/26 Q 01 т1 21/40 с присоединением заявки ) : Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изооретвний и открытий (32) Приоритет Опубликовано 2...
468198![Устройство регистрации структурных неоднородностей твердых веществ Устройство регистрации структурных неоднородностей твердых веществ](https://img.patentdb.ru/i/200x200/77adbcde9681b5729458a6f25c027125.jpg)
Устройство регистрации структурных неоднородностей твердых веществ
О П И С А=Й- --И--ЕИЗОБРЕТЕНИЯ п 474724 Союз Советскнх Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 17.04.72 (21) 1777779/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 25.06.75. Бюллетень ¹ 23 Дата опубликования описания 29.09.75 (51) М. Кл. G 01п 21/28 Государственный комитет Совета Министров СССР l...
474724![Способ определения числа френеля оптической системы (его варианты) Способ определения числа френеля оптической системы (его варианты)](https://img.patentdb.ru/i/200x200/35ae89b9a2bc2e08480a62d12eed1242.jpg)
Способ определения числа френеля оптической системы (его варианты)
Изобретение относится к области измерительной техники и позволяет повысить точность измерений. По первому варианту исследуемый объектив освещают точечным источником и регистрируют распределение интенсивности в дифракционной картине вдоль оптической оси. Измеряют расстояние между минимумами энергии главного и первого положительного максимумов или главного и первого отрицательного...
1224644![Фазовый объектив Фазовый объектив](https://img.patentdb.ru/i/200x200/348973161900264bdb38fec06f48e5d1.jpg)
Фазовый объектив
Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет увеличить поле зрения устройства. Объектив состоит из двух компонентов , первый из которых выполнен в виде линзы .1 Френеля со ступенчатым профилем на одной из поверхностей . Афокальный компенсатор 2 фазовых искажений представляет собой отрицательный мениск, обращенный вогнутостью к предмету. Фазовые сдвиги волновых...
1277041![Способ определения числа френеля оптической системы Способ определения числа френеля оптической системы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/98e2293e7bf391b2a39ac7c948fedb6d.jpg)
Способ определения числа френеля оптической системы
Изобретение относится к изйерительной технике. Цель изобретения - повышение точности, а также упрощение процесса измерений. Для этого поле волны, сформированной точечным источником и прошедшей через исследуемую систему, сканируют вдоль оптической оси, регистрируют распределение энергии в области главного дифракционного порядка и определяют величину асимметрии о , являющуюся харак...
1427196![Способ определения разрешающей способности оптической системы Способ определения разрешающей способности оптической системы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6be1e6c16a3d00c7ce796183648a9d17.jpg)
Способ определения разрешающей способности оптической системы
Изобретение относится к области измерительной техники и решает задачу расширения функциональных возможностей дифракционного способа контроля оптических систем за счет определения разрешающей способности в пространстве предметов. Целью изобретения является повышение точности. Оптическую систему освещают точечным источником, расположенным в плоскости, оптически сопряженной с плоскос...
1597655