PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МИРОШНИК ИГОРЬ АФАНАСЬЕВИЧ

Изобретатель МИРОШНИК ИГОРЬ АФАНАСЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Стробоскопический осциллограф

Стробоскопический осциллограф

  Всесон ..ня Фнтеентно- т . : чеснетее! йети истока МБФ И АНЙ О П Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советоии Социалистических Республик (»)445916 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено04.09.72 (21) 1ь25109/18-10 с присоединением заявки № (23) Приоритет Государственный квмнтет Совета !йнннетрвв СССР па делам нзебретеннй м аткрытнм (53) УДК 621.317.7 (...

445916

Устройство для измерения параметров рассеяния транзисторов

Устройство для измерения параметров рассеяния транзисторов

  6Oi633 стоянного тока, обеспечивающих режим питания транзистора 4. Один из вариантов устройства, изображенный на фиг. 2, вкгпочает в себя: первый управляемый ключ 9 с контактами 17, 18, 19 и управляющей обмоткой 20, второй ключ 10 с контактами 24, 25, 26 и обмоткой упра вления 27, третий ключ 11 с контактами 29, 30,и обмоткой управления 31 для подключения входного электрода тр...

601638

Устройство для измерения параметров рассеяния четырехполюсника

Устройство для измерения параметров рассеяния четырехполюсника

  Союз Советскик Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ In>741195 (61) Дополнительное к авт. свид-ay— (22) Заявлено 14.06.78 (21) 2627557/18-21 с присоединением заявки HP (23) Приоритет G 01 R 27/28 Государственный комитет СССР ло делам изобретений и открытий Опубликовано 15,06.80, Бюллетень Йо 22 Дата опубликования описания 150680 (53) У...

741195

Устройство для измерения линейных параметров рассеяния четырехполюсников в радиодиапазоне

Устройство для измерения линейных параметров рассеяния четырехполюсников в радиодиапазоне

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСХОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик р >?48287 Ф 4 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 15,0975 (21) 2172144/18-09 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 1507.80.Бюллетень ¹ 26 Дата опубликования описания 15Q78Q (51)М. Кл.2 G Q1 R 27/28 Государственный комитет СССР яо делам изобретений и открыти...

748287

Устройство для измерения параметров рассеяния транзисторов

Устройство для измерения параметров рассеяния транзисторов

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИН 09) (И), M5I) G 01 R 31 2.6 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3488414/18-21 (22) 03.09.82 (4Ь) 07.04.84. Бюл. 9 13 (72) И.A.Ìèðoøíèê, Н.A.Øêóðèíà, Ю.Л.Нуров, В.Н.Горин и Т.A.Èàëàøèõèí (53) 621.383.3 (088.8) (56) 1. Столярский Э. Измерение параметров . транзисторов. M., "Сов. радио", 1976, с. 267. 2....

1084709


Способ определения линейных параметров многополюсника

Способ определения линейных параметров многополюсника

  Изобретение относится к технике радиоизмерений и обеспечивает повышение точности за счет устранения погрешностей, обусловленных паразитными элементами резисторов. Способ заключается в том, что на один вход исследуемого многополюсника (ИМИ) 5 через последовательно включенный резистор 2 подают синусоидальньш сигнал от источника 1 синусоидального сигнала. К другим входам ИМП 5 подкл...

1317370

Устройство для измерения комплексных параметров двухполюсников

Устройство для измерения комплексных параметров двухполюсников

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерениях комплексных сопротивлений двухполюсников в диапазоне высоких частот. Устройство содержит источник 1 синусоидального напряжения, первый резистор 2, второй (образцовый) резистор 3, первый ключ 4, первый конденсатор 5, второй ключ 6, векторный вольтметр 7, коммутатор 12, зажимы 13,14, 15, калиброво...

1580282

Устройство для измерения динамических параметров четырехполюсных микросхем

Устройство для измерения динамических параметров четырехполюсных микросхем

  Изобретение относится к технике радиоизмерений и может быть использовано в автоматизированных информационно-измерительных системах измерения и диагностики качества микросхем на высоких частотах. Цепью изобретения L 2 является повышение точности измерения четырехполюсник микросхем на высоких частотах за счет устранения влияния паразитных элементов. Устройство содержит источник 1 Э...

1619209