РАСКЕВИЧ АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ
Изобретатель РАСКЕВИЧ АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ измерения толщины слоев полупроводниковых материалов
О П И А Н И Е ()4467М ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ Союз Советскии Юоциалистииесних Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено25 е09 ° 72 (21)Т830б57/252 (ц) Кл, с присоединением заявки— 0 ОИ П/06 Госудерстеенный комитет Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (32) Приоритет— ОпубликованоБ.|О ф74Бюллетень № 38 (53) Удк 53 .71...
446743Устройство для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН, содержащее манипулятор , включающий установленные оппозитно и соосно измерительную головку с датчиком перемещений и толкатель , предметный стол, рычаг операционных перемеще:1Ий, кинематически связанный с измерительной головкой, электронный блок, первый вход которого подключен к датчику перемещений, отлич...
1106983Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов
Изобретение относится к области измерения параметров полупроводниковых материалов и может быть использовано для контроля удельного сопротивления пластин и слитков полии монокристаллов кремния, арсенида галлия, теллурида кадмия и т.д. Цель изобретения - повышение точности, производительности измерений в широком интервале температур, расширение диапазона измеряемых удельных сопротив...
1583814