PatentDB.ru — поиск по патентным документам

РАСКЕВИЧ АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ

Изобретатель РАСКЕВИЧ АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения толщины слоев полупроводниковых материалов

Способ измерения толщины слоев полупроводниковых материалов

  О П И А Н И Е ()4467М ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ Союз Советскии Юоциалистииесних Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено25 е09 ° 72 (21)Т830б57/252 (ц) Кл, с присоединением заявки— 0 ОИ П/06 Госудерстеенный комитет Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (32) Приоритет— ОпубликованоБ.|О ф74Бюллетень № 38 (53) Удк 53 .71...

446743

Устройство для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин

Устройство для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН, содержащее манипулятор , включающий установленные оппозитно и соосно измерительную головку с датчиком перемещений и толкатель , предметный стол, рычаг операционных перемеще:1Ий, кинематически связанный с измерительной головкой, электронный блок, первый вход которого подключен к датчику перемещений, отлич...

1106983

Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов

Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов

  Изобретение относится к области измерения параметров полупроводниковых материалов и может быть использовано для контроля удельного сопротивления пластин и слитков полии монокристаллов кремния, арсенида галлия, теллурида кадмия и т.д. Цель изобретения - повышение точности, производительности измерений в широком интервале температур, расширение диапазона измеряемых удельных сопротив...

1583814