РАСКЕВИЧ ТАТЬЯНА ДМИТРИЕВНА
Изобретатель РАСКЕВИЧ ТАТЬЯНА ДМИТРИЕВНА является автором следующих патентов:
Способ измерения толщины слоев полупроводниковых материалов
О П И А Н И Е ()4467М ИЗОБРЕТЕ Н ИЯ Союз Советскии Юоциалистииесних Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено25 е09 ° 72 (21)Т830б57/252 (ц) Кл, с присоединением заявки— 0 ОИ П/06 Госудерстеенный комитет Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий (32) Приоритет— ОпубликованоБ.|О ф74Бюллетень № 38 (53) Удк 53 .71...
446743