РОДИЧЕВ АЛЕКСАНДР СЕРГЕЕВИЧ

  ОП ИКАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЙТЙЛЬСТВУ г (61) Зависимое от авт. свидетельстваТ96?09 (22) Заявлено27.07.72 (21) ISI54%/262 (») 45II68 Союз Советских Социалнстнмеских Республик (51) M K> н03 JL 3/02 с присоединением заявкиГосударственный комитет Совета Мнннстров СССР вв делам нзооретеннй и открытей (32) ПриоритетдпубликоваиоЯ5 И. 74Бюллетеиь № 43 (53) УИК 548. П2(0...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 068 Союз Советских Социалистических Ресау6лнк 1 Э Ь (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 06.11,74 (21) 2074614 09 с присоединением заявки М ГосУдаРственный комитет (23) приоритет Совета Министров СССР по делам изобретений Опубликовано 30.01.77. Бюллетень М 4 Н ОЗН 9, 04 1.372.412 88.8) и открытий Дата опубликован...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ г. ц 6404 В Союз Советских Социалистических Республик(61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 08.04,77 (21) 2477241/18-23 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.12.78. Бюллетень № 48 (45) Дата опубликования описания 30.12.78 (51) М. К.. Н ОЗН 3/02 Государственный комитет (53) УДК 621.372.54 (088....

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К ASTOPCKOMV СВИДатЕЛЬСтв Союз Соеетскик Социаиистичеса@ Республик ">716007 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— 1 (22) Заявлено 15.12.77 (21) 2555621/18-23 с присоединением заявки № —. (23) Приоритет— G 01 Гвсударствевный вемвтет СССР ав делам изеаретенвй в вткрытий Опубликовано 15.02.80. Бюллетень № 6 Дата опубликования описания 25.02.80 (5...

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (ii) 961101 (6l ) Дополнительное к авт, свнд-ву (22)Заявлено 24,04.80 (2I) 2918558/40-23 с присоединением заявки М (23)Приоритет (51) М. Кл. Н 03 Н 9/15 1ЪоуАорстеенный комитет СССР ао делом нзобретеннй н отерытнй (5Ç) УД К 621. 372 °. 412 {088. 8) Опубликовано 23.09.82 ° Бюллетень М...

  Способ относится к области оптических методов контроля качества изготовления и обработки плоских оптических, кристаллических и других элементов. В основу способа положен принцип гетеродинной интерферометрии. Целью изобретения является повышение точности измерения разнотолщинности оптически прозрачных элементов и расширение класса контролируемых элементов по степени шероховатости...