PatentDB.ru — поиск по патентным документам

БЕЛЬФОР МИХАИЛ АБРАМОВИЧ

Изобретатель БЕЛЬФОР МИХАИЛ АБРАМОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ измерения неровностей профиля поверхности

Способ измерения неровностей профиля поверхности

  ОПИСАНИЕ ИЗОЬРЕтЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (») 456976 Союз Советских Социалистических Республии (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 19.05.72 (21) 1786483/25-28 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 15.01.75, Бюллетень № 2 Дата опубликования описания 04.03.75 (51) М. Кл. б 01 b 7 }3}4 Государственный комитет Совета Министров СССР (53) УДК...

456976

Устройство для измерения неровностей профиля поверхностей

Устройство для измерения неровностей профиля поверхностей

  ОП ИСА ИЗОБРЕТЕНИЯ 26I7 Союэ Советских Социалистических Реслуолик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 19.05.72 (21) 1786482/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.08.75. Бюллетень № 32 Дата опубликования описания 1.12.75 (51) М. Кл, G 01Ь 7/34 Государствеиный комитет Совета Мииистрав СССР ла делам иэобретеиий и открытий (53) УДК 531.71...

482617