PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ДЕНИСЮК ВЛАДИМИР АНТОНОВИЧ

Изобретатель ДЕНИСЮК ВЛАДИМИР АНТОНОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ определения изолирующих свойств диэлектрических слоев на полупроводниках

Способ определения изолирующих свойств диэлектрических слоев на полупроводниках

  ВОЗ союзм мй ll4L1e8f 80-т - чоскаю 3 бн ак .=А 00 465584 Союз Советских Социалистических Республик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт, свидетельства (22) Заявлено 25.09.72 (21) 1830759/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 30.03.75. Бюллетень № 12 Дата опубликования описания 16.07.75 (51) M. Кл. G 01п 27/24 Государственный ко...

465584

Способ определения потенциально-нестабильных полупроводниковых приборов

Способ определения потенциально-нестабильных полупроводниковых приборов

  11) 490047 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 30.03.71 (21) 1638572/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.10.75. Бюллетень ¹ 40 Дата опубликования описания 31.03.76 (51) г1. Кл. G 01г 31/26 Государственный комитет Совета Министров СССР (53) УДК...

490047

Устройство для отбора интегральных схем идентичными параметрами

Устройство для отбора интегральных схем идентичными параметрами

  ои705391 Союз Советских Соцреалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕЛЬСТВУ 1 (61) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 210777(21) 2511859/24 21 (51)М. Кл. G 01 R 31/28 с присоединением заявки Мо Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет ОпубликованО 2512.79. Бюллетень М 47 Дата опубликования описания 2512.79 (53) УДК 621.3. 019,...

705391

Рентгенотелевизионный микроскоп

Рентгенотелевизионный микроскоп

  Союз Советскик Социалистическик Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (B1) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено 30. 06. 80 (21)2947997/18-25 с присоединением заявки М {5t)N. Кд. G 01 N 23/04 Ввудерстввввб квинтет СССР вв делан кзебретеннк и открытки (23 } П риоритет (53) УДК 620 ° 179. ° 152(088.8) Опубликовано 15.04.82. Бюллетень _#_g 14 Дата опубликования описания 1...

920479

Устройство для измерения потенциала поверхности в растровом электронном микроскопе

Устройство для измерения потенциала поверхности в растровом электронном микроскопе

  Изобретение относится к растровой электронной микроскопии. Цель изобретения - повышение точности измерения потенциала поверхности. Устройство включает энерг.оанализатор в составе вытягивающего и анализирующего электродов 5, сцинтилляцибнный преобразователь 7 с фотоэлектронным умножителем 8, схему 14 сравнения и задающий генератор 16, селективный усилитель -9 переменного тока с вь...

1274028