PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ЮДОВИЧ МИХАИЛ ЕВГЕНЬЕВИЧ

Изобретатель ЮДОВИЧ МИХАИЛ ЕВГЕНЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ изменения числа отражений в элементах нарушенного полного внутреннего отражения

Способ изменения числа отражений в элементах нарушенного полного внутреннего отражения

  О П И С А Н И Е (i) 465685 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.05.72 (21) 1786328/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.03.75. Бюллетень № 12 Дата опубликования описания 16.07.75 (51) M. Кл. G 01п 21/48 Государстеениык комитет Совета Министров СССР по...

465685

Способ измерения спектров отражения веществ с помощью жидкостных оптических элементов нарушенного полного внутреннего отражения (нпво)

Способ измерения спектров отражения веществ с помощью жидкостных оптических элементов нарушенного полного внутреннего отражения (нпво)

  СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ .ОТРАЖЕНИЯ ВЕЩЕСТВ С ПОМОЩЬЮ ЖИДКОСТНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ НАРУШЕННОГО ПОЛНОГО ВНУТРЕННЕГО OTPAlEHIiH (НПВО), содержащих вкладыш с изменяемым числом отражений, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности измерения спектров жидких веществ , исследуемую жидкость и элемент НПВО разделяют с помощью пластины , ойтические свойства которой идентичны ил...

1121589

Способ определения сдвигов фаз световой волны при отражении

Способ определения сдвигов фаз световой волны при отражении

  Изобретение относится к области оптических измерений и может найти применение в качестве чувствительного бесконтактного метода исследования поверхностного слоя различных объектов. Цель изобретения - определение абсолютных сдвигов фаз световой волны при отражении. При осуществлении способа определения сдвигов фаз световой волны при отражении исследуемому веществу придают форму тра...

1406455