ЮДОВИЧ МИХАИЛ ЕВГЕНЬЕВИЧ
Изобретатель ЮДОВИЧ МИХАИЛ ЕВГЕНЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ изменения числа отражений в элементах нарушенного полного внутреннего отражения Способ изменения числа отражений в элементах нарушенного полного внутреннего отражения](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a8272c8a3b6af946fc91591331b426f0.jpg)
Способ изменения числа отражений в элементах нарушенного полного внутреннего отражения
О П И С А Н И Е (i) 465685 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 10.05.72 (21) 1786328/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 30.03.75. Бюллетень № 12 Дата опубликования описания 16.07.75 (51) M. Кл. G 01п 21/48 Государстеениык комитет Совета Министров СССР по...
465685![Способ измерения спектров отражения веществ с помощью жидкостных оптических элементов нарушенного полного внутреннего отражения (нпво) Способ измерения спектров отражения веществ с помощью жидкостных оптических элементов нарушенного полного внутреннего отражения (нпво)](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3d89f423369717fb1693761aa38e941a.jpg)
Способ измерения спектров отражения веществ с помощью жидкостных оптических элементов нарушенного полного внутреннего отражения (нпво)
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ .ОТРАЖЕНИЯ ВЕЩЕСТВ С ПОМОЩЬЮ ЖИДКОСТНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ НАРУШЕННОГО ПОЛНОГО ВНУТРЕННЕГО OTPAlEHIiH (НПВО), содержащих вкладыш с изменяемым числом отражений, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности измерения спектров жидких веществ , исследуемую жидкость и элемент НПВО разделяют с помощью пластины , ойтические свойства которой идентичны ил...
1121589![Способ определения сдвигов фаз световой волны при отражении Способ определения сдвигов фаз световой волны при отражении](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6fbe42523cfd21bb128d81556c8e9a96.jpg)
Способ определения сдвигов фаз световой волны при отражении
Изобретение относится к области оптических измерений и может найти применение в качестве чувствительного бесконтактного метода исследования поверхностного слоя различных объектов. Цель изобретения - определение абсолютных сдвигов фаз световой волны при отражении. При осуществлении способа определения сдвигов фаз световой волны при отражении исследуемому веществу придают форму тра...
1406455