PatentDB.ru — поиск по патентным документам

СИНЧУК ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ

Изобретатель СИНЧУК ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Классификатор полупроводниковых приборов

Классификатор полупроводниковых приборов

  ОписАни"в 1»> 470020 Союз Советских Социалистических Республик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 07.02.72 (21) 1745185/26-25 с присоединением заявки № (32) Приоритет Опубликовано 05.05.75. Бюллетень № 17 Дата опубликования описания 31.07.75 (5I) i!. Кл. Н 01! 7!68 Государственный комитет Совета Мииистрав СССР ао делам...

470020

Классификатор линейных интегральных схем

Классификатор линейных интегральных схем

  1 О П И С А Н И Е (и) 528520 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 27.09.74 (21) 2064092/21 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.09.76. Бюллетень № 34 Дата опубликования описания 06.10.76 (51) М. Кл. - б 01k 31/28 Госудерстееикык комитет Совете Министров СССР по...

528520

Стробоскопический измеритель параметров наносекундных импульсов

Стробоскопический измеритель параметров наносекундных импульсов

  СТРОБОСКОПИЧЕСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ПАРАМЕТРОВ НАНОСЕКУНДНЫХ ИМПУЛЬСОВ, содержащий задающий генератор импульсов , выход которого соединен с входом первого блока электронной задержки и входом второго блока электронной задержки,.выходом подключённого к входу преобразователя напряжение - задержка, управляющий вход которого связан с подвижным контактом первой секции второго переключателя ,...

1087902

Устройство для измерения параметров операционных усилителей

Устройство для измерения параметров операционных усилителей

  Изобретение относится к конт рольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения и контроля параметров операционных усилителей - входного тока, напряжения смещения, коэф. усиления и др. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей и повьшение производительности труда - достигается путем непосредственного отсчета ве-- личины измеряемого параметра и ис...

1226364